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Registro completo de metadados
Campo DCValorIdioma
dc.creatorVasconcelos, Ado Jório de-
dc.creatorCançado, Luiz Gustavo-
dc.creatorAndrade, Rodrigo Ribeiro de-
dc.creatorVasconcelos, Thiago de Lourenço e-
dc.creatorArchanjo, Bráulio Soares-
dc.creatorAchete, Carlos Alberto-
dc.creatorDuarte, Alex Soares-
dc.creatorCorreia, Ricardo Rego Bordalo-
dc.creatorSchoffen, Júlio Ricardo-
dc.creatorVasconcellos, Marcos Antonio Zen-
dc.creatorSoares, Jenaina Ribeiro-
dc.creatorRodrigues, Wagner Nunes-
dc.date.accessioned2024-09-17T12:49:00Z-
dc.date.available2024-09-17T12:49:00Z-
dc.identifier.otherBR 10 2012 033304 0 C8pt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.ufla.br/jspui/handle/1/59416-
dc.titleDispositivo maciço com extremidade unidimensional para microscopia e espectroscopia óptica de campo próximopt_BR
dc.rights.holderUniversidade Federal de Minas Geraispt_BR
dc.rights.holderUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.rights.holderInstituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - INMETROpt_BR
dc.description.resumoA metéria tratada (Figura 1) é descrita por um dispositivo maciço com extremidade unidimensional, para microscopia e espctroscopia óptica de campo próximo. Este dispositivo compreende uma sonda maciça, podendo esta ser aplicada, preferencialmente, em equipamentos e técnicas de microscopia e espectroscopia, ambas por varredura de sonda. O dispositivo proposto (Figura 1) apresenta dimensões adequadas para o acoplamento com o campo elétrico de luz que propaga preferencialmente na direção normal à superfície a ser analisada. A matéria tratada (Figura 1) apresenta robustez durante o processo de análise superficial, podendo analisar com alta resolução estruturas de dimensões nanométricas.pt_BR
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